Xstress3000 analyseur de contraintes par diffraction x XSTRESS 3000 est un diffractomètre en rayons X de faible encombrement, léger, précis et de sécurité pour la mesure des contraintes résiduelles et du taux d’austénite résiduelle. Les contraintes sont mesurées sur les matériaux cristallins en utilisant le phénomène dit «loi de Bragg». XSTRESS 3000 est adapté a la fois pour la mesure au labo et sur le terrain. Comme il est léger et portable, il rend possible les mesures dans des conditions difficiles in situ, comme dans un réservoir de stockage, dans pipeline, ou sur un échafaudage. En dépit de sa portabilité, sa procédure d’alignement et son emploi on fait l’objet d’une étude poussée pour l’utilisation facile, sans nuire aucunement à sa précision. XSTRESS 3000 pèse seulement 25 kg (env.) et par conséquent peut être facilement chargé, déchargé et transporté par une seule personne. Complètement intégré, il nécessite seulement une alimentation 110-240 V ≈. Depuis le moment de son déchargement, il est prêt à mesurer en 10 mn seulement. Grâce à l’implémentation de la plus récente technologie des détecteurs semi conducteurs (breveté) le temps de meure type sur un acier classique est de 2 mn ou moins. La précision de mesure du XSTRESS 3000 est comparable à celle des grands diffractomètres fixes de labo. Bien que facile d’emploi, il est très sophistiqué, et répondra aux attentes du chercheur le plus exigeant. Le logiciel X3000 donne accès à tous les paramètres et valeurs mesurées à toute étape de la routine de mesure. XSTRESS 3000 comprend: Cliquez ci-dessous pour télécharger
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